１．概述
1.1简介
TY-ABR-1000 装置，在本公司制造的自动双折射测量装置（TY-ABR-1000 系列）的基础上增设了应力载荷装置，由此可以测量到高精度的光弹性常数。测量方法是，采用配置的拉伸/压缩
试验机，对样品施加载荷的同时测量光弹性常数。
双折射测量的方式，由于采用光学外差法的普通光路干涉仪，及通过Fourier分析法进行数据处理的方式， 其特点是速度快，精度高，并不受振动及空气流动等外界干扰。干涉仪采用波长为633 nm的频率稳定的横向Zeeman
激光器（输出2 mW）作为光源，尽量减少设备构成中的光学部件，实现了长期使用过程中，基本上无需维护的构造。
１．２ 特点
◎测量时间 3秒以下/测量点
◎解析度 双折射相位差：0.01nm
主轴方位角：0.1deg.
◎精度 应力松弛可控制到*小化
◎负载量 量程0～50N *小读数0.01N
（收费选项：添加可切换式量程）
◎测量位置确认 可通过目测来确认测量位置
◎操作简单 根据菜单指示用鼠标进行简单操作
◎*适合用于研究及质量管理
１．３ 双折射测量原理
本设备使用由两个线性偏振光分量（f1，f2）组成的稳频激光器（STZL），两个线性偏振光分量的光频 率略有不同并且彼此正交。 该双频光被斜角分离器分成两个光路，并且每个均被线性偏振器混合成外差。由光电二极管进行光电转换的拍频信号（fb = f1-f2）为几百kHz，可以通过
示波器或电相位计读取。
以此方式，样品的光学相位差（δ）被转换为拍频信号的相位差（δ），并且可以容易地被测量。如图所示，通过使半波片和线性偏振片同步旋转来获得样品的主轴方向（φ）。
○相位差：Rｅ
Rｅ=(λ／２π)δ=(ｎＳ－ｎＦ)d
・λ ：光源波长
・δ ：实测相位差
・ｎＳ,ｎＦ ：主折射率
・ｄ ：样品厚度
○主轴方位角：φ
１．４ 主要规格
１．４．１ 光弹性常数的测量性能及规格性能
测 量 范 围 ： ０．１～２００ (×10-12/Pa) 前 后
重复精 度 * ： ２％以下
以 TAC（三乙酰纤维素）薄膜作为被测样品测量时
测 量 方 法 ：
（１） 压缩模式；
对类似于普通玻璃的硬质样品施加压缩载荷进行测量的模式（标准样品形状；φ20，t15mm）
（２） 拉伸模式；
对类似于薄膜的软质样品施加拉伸载荷进行测量的模式
（有关例如哑铃形或条形薄膜等其他形状的样品，将另行协商）
（利用初始双折射量校准功能，可以使该测量不受样品初始条件的影响）
载 荷 范 围 ： ０～５０N （*小每 0.1N 程序）
规格
转换模式： 压缩模式及拉伸模式
驱动系统 ： 采用步进马达同时驱动左右
螺钉 模式切换： 可通过软件切换（但是，样品卡盘需要手动切换）
拉伸/压缩速度： ０．０１～１００mm/min
拉伸/压缩距离： １００mm MAX
称重
传感器： 额定 50N （可更换为 200N,1000N）
１．４．２ 双折射测量性能及规格性能
测 量 项 目 ： ○双折射相位差：Re （光学相位差：δ） ○主轴方位角：φ
测 量 范 围 ： 0～260nm （0～150deg.） 0±90deg.
解 析 度 ： 0.01nm （0.006deg.） 0.1deg.
重 复 精 度 ： ±0.5nm （±0.3deg.） ±0.5deg.
（水晶材质的相位差板（1/4λ）在正常的检验室环境下测量的实际值
为3σ）
测 量 时 间 ： 3秒以下/测量点（同时测量相位差及方位角）
规格
测 量 原 理 ： 光学外差测量法（双折射量 Re，主轴方位角 φ）
光 源 ： He-Ne 激光（λ=633nm;输出 2mW) [稳频横向 Zeeman 激光器]
光 束 直 径 ： φ0.75mm（１／ｅ２）
１．４．3 装置外形
光弹性测量装置 型号TY-ABR-1000
１．５ 测量例
１．５．１ 光弹性常数测量
光弹性常数TAC（三乙酰纤维素）薄膜
歪失真量VS相位差TAC（三乙酰纤维素）薄膜
2.交货条件
2.1货期
一般情况下在接受正式订单 6 个月后出厂交货。但是，在发生意外的情况时，将经协商另行决定。出口/运输时间另行协商。
2.2交接条件
在本产品规格书中所示的范围内进行调整并交付。
2.3验收
在贵公司负责人的监督下进行试运行，以满足下列条件视为验收结束。(1)本装置满足产品规格书中所记载的功能。
(2)本装置能够正常运行。
(3)可以满足贵公司的验收条件。
2.4质量保证
本装置验收后一年之内，如明显属于本公司职责范围内的产品不良而产生的故障或不良，本公司将提供免费修理或更换。
2.5使用条件
请按照本产品规格书以及操作指南中的说明使用本装置。如不遵守本产品规格书以及操作指南的要求而进行操作时，恕不提供质量保证。
