牛津仪器X-Strata 920高精度膜厚测量仪可用于电子元器件、半导体、
电路板、
线路板、LED支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品、X射线荧光镀层
测厚仪快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，测量精度高，稳定性好。低成本、高效率.牛冿 OXFORD X-strata 920。
工作原理
对被测样品发射一束一次X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
X射线系统
垂直下照式X射线光学系统，50 W(50 kV，1.0 mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管，高计数率，改善分析精度，到达更小的激发X射线束斑
准直器
特点及优势
1.测量元素范围：钛Ti 22---铀U 92；
2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
3.测量精度高、稳定性好，测量结果精确至μin；
4.快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；
5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；
6.进行贵金属检测，如Au karat评价；
7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
8.强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、数据编号、C P、C PK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；
9.结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等；
10.测量位置预览功能；高分辨率彩色C CD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；
11.激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；
12.拥有NI ST认证的标准片；
提供全球服务及技术支持。
安全性：
1.简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权
2.主管人员可进行系统维护
3.系统自动生成操作员的使用记录
4.自动锁定功能防止未授权的操作
5.Z轴保护
传感器6.安全防射线光闸
7.样品室门开闭传感器
8.X射线锁
9.X射线
警示灯10.紧急停止按钮
11.前面板安全钮和后面板安全锁
操作方法：
*一步：将产品放置在样品台上
无损分析，无需样品制备，开槽式样品仓便于放置产品，超大样品台便于大面积产品（如：PCB）测量，配备了门开闭传感器，增强了安全性
第二步：一键完成视频聚焦
一键自动镭射聚焦，避免人为操作误差标配固定焦距12.7 mm，选配变焦，高分辨率、高放大倍率的彩色数码影像装置，画面清晰、测试点精准定位；放大倍数：30倍（标配），50倍（选配）自动台：利用可编程X Y样品台和Z轴实现单次或多次分析操作
简单快速的多点分析
第三步：点击”GO”一键完成测量
1.几秒内显示结果
2.保存、打印或传输结果
3.测试结果可一键导出PDF（标配）、Excel（选配）
使用预置和客户自定义的报告模板
